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In dieser Masterarbeit wird die Entwicklung einer elektronischen Last zur Prüfung von Spannungsversorgungen in der Produktentwicklung beschrieben. Basierend auf den Ergebnissen einer vorherigen Arbeit, wurde ein Schaltplan entwickelt. Die theoretischen Grundlagen des in diesem Schaltplan verwendeten Regelkreises werden erläutert und die Instabilität der Regelung, anhand von Simulationen, aufgezeigt. Anschließend wird eine geeignete Kompensationsschaltung entwickelt und deren Stabilität nachgewiesen. Es folgt die Auswahl von Bauteilen sowie die Worst-Case Betrachtungen der jeweiligen Betriebszustände. Der Erstellung eines Platinen Layouts und einer Programmierung des verwendeten Mikrocontrollers folgen abschließende Funktionstests der erstellten Platine.
In dieser Masterthesis wird die Entwicklung einer Komponente zum Vergleich von Clocktrees
beschrieben, die als Erweiterung in ein bestehendes Clocktree-Analyse-Tool integriert wird. Das
bestehende Programm ist aus einer Tcl-Anwendung und einer Qt-Applikation aufgebaut. Alle
Algorithmen und eine Datenbasis, welche die Daten zu den Clocktrees enthält, sind Teil der Tcl-
Anwendung. Die Benutzeroberfläche wird durch eine Qt-Applikation realisiert, welche durch die
Komponente für den Vergleich der Clocktrees ergänzt wird. Der Algorithmus für diesen Äquivalenzcheck
basiert auf der Graphentheorie. Dazu werden die Clocktrees in Baum-Graphen transformiert,
um die daraus resultierenden Strukturen vergleichbar zu machen. Die ermittelten Elemente,
welche den Unterschied verursachen, werden in der Qt-Applikation, in einem Schematic-
Viewer-Widget koloriert, das bereits in der bestehenden Applikation implementiert ist.
Die vorliegende Masterthesis beschreibt die Entwicklung eines Strahlenharten CAN Physical Layer in einer 65 nm CMOS Technologie für das Kontrollsystem des ATLAS Pixeldetektors. Dieser CAN Physical Layer ist Bestandteil des DCS Chips (Detector Control System), der im Rahmen des Upgrades des ATLAS Pixeldetektors zum High Luminosity Large Hadron Collider (HL-LHC) entwickelt wird. Die Aufgabe des DCS Chips ist die Steuerung und Überwachung der Sensorik des ATLAS Pixeldetektors. Die Transistoren der verwendeten Technologie dürfen mit maximal 1,2 Volt betrieben werden. Um dennoch die Kompatibilität zum CAN Standard beizubehalten ist es notwendig mit wesentlich höheren Spannungspegeln zu arbeiten. Im Verlauf dieser Masterthesis werden zu diesem Zweck ein CAN Treiber, ein Levelshifter und ein CAN Empfänger entworfen, die dazugehörigen Layouts erstellt und die Eigenschaften der Schaltungen auf dem ersten gefertigten Prototyp des DCS Chips vermessen.
Diese Masterthesis beschäftigt sich im Rahmen des Testchips TC1.5 der Infineon Austria AG mit der Analyse und Charakterisierung des Reverse und Forward Body Biasing mit differentieller Spannungsskalierung. In einem theoretischen Grundlagenteil werden dem Leser zunächst die Beweggründe sowie die nötigen Informationen der zugrunde liegenden Halbleiter-Technologie vermittelt, um ihn an die Thematik des Body Biasing und der Power Management Einheiten heranzuführen. Es folgt die Beschreibung des AurixPlus-digital EVR and PMS Testchips (Version 1.5) hinsichtlich seiner Struktur und Funktionalität. Den Kern der Arbeit bilden der Aufbau eines teilweise automatisieren Messplatzes, die Entwicklung einer Testsoftware (Python, C#), die Erarbeitung von Test Spezifikationen sowie die Durchführung entsprechender Messungen zur Analyse und Charakterisierung. Die Ergebnisse dieser Messungen werden im Anschluss eingehend besprochen und mit Bezug auf zukünftige Entwicklungen in diesem Bereich bewertet.
Die vorliegende Masterthesis beschreibt die Entwicklung eines Testsystems für die PSI5-
Schnittstelle von ASICs und ASSPs. Zunächst werden anhand des PSI5-Standards die
Eigenschaften des Physical- und Data-Link-Layers aufgezeigt, welche neben etwaigen
Störgrößen relevant für die Entwicklung des Testsystems sind. Das anschließend entwickelte
Testsystem besteht aus einem physical Layer und einem ZYNQ SoC, welcher
programmierbare Logik (FPGA) und CPU-Kerne vereint. Die Kernfunktionen der Sensorsimulation
zum Testen eines PSI5-Master-Interfaces sind in programmierbarer Logik
umgesetzt, während Softwareapplikationen für den Testablauf und die automatisierte
Auswertung der Ergebnisse verantwortlich sind. Die beiden CPU-Kerne des ZYNQ SoCs
werden als ein asymmetrisches Multiprozessorsystem aus dem Echtzeitbetriebssystem
FreeRTOS für zeitkritische Aufgaben und einem modifizierten Linux-Kernel genutzt.
Die Bedienung des Testsystems erfolgt über ein Webinterface.
Diese Ausarbeitung dokumentiert die Verifikation des Shunt-Low-Dropout-Spannungsreglers
für den Einsatz im ATLAS- und CMS-Projekt. Im Rahmen einer Kooperation zwischen der
Fachhochschule Dortmund und dem Forschungsinstitut CERN in Genf wird eine integrierte
CMOS Schaltung zur seriellen, strombasierten Spannungsregelung der Pixeldetektormodule
entwickelt. Der Fokus dieser Masterthesis ist die simulationstechnische Verifikation unter
Berücksichtigung der spezifizierten Einsatzbedingungen in den Experimenten und umfasst -
neben einer Einführung in den Shunt-LDO Regler auf Basis des Testchip C - die Vorstellung
und Dokumentation der erarbeiteten Simulationsergebnisse.
Der vorliegende Bericht „Entwurf eines strahlenharten 5V Spannungsreglers aus kaskodierten Dünngate-Transistoren in einer 65nm CMOS Technologie“ beschreibt eine an der Fachhochschule Dortmund im Fachbereich Elektrotechnik im Rahmen der Masterthesis durchgeführte Studie.
Ziel des Projekts ist die Entwicklung eines 5V Spannungsreglers, der einen CAN zu I2C Brücken Chip mit Spannung versorgt. Dabei ist zu beachten, dass die Core Transistoren in 65nm CMOS mit einer maximalen Spannung von 1,2V betrieben werden können. Der Chip soll für die Steuerung des Atlas Pixel Detektors am CERN eingesetzt werden.
In dieser Masterthesis wird ein Shunt-Low-Dropout-Spannungsregler messtechnisch
überprüft. Dieser Regler entsteht in Kooperation zwischen der Fachhochschule Dortmund
und dem Kernforschungszentrum CERN für die Nutzung in Experimenten am
LHC-Teilchenbeschleuniger in Genf. Der Fokus liegt auf der Messung der ersten beiden
entwickelten Testchips des Projektes RD53B, inklusive der technischen Grundlagen, des
genutzten Messaufbaus und der Validierung. Diese Thesis soll den Grundstein für Messungen
an den folgenden Chipgenerationen im Rahmen des Projektes legen.