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Charakterisierung integrierter Dioden mit linearen Polarisationsfiltern und eines Transimpedanzverstärkers in einer 65nm CMOS Technologie zur Verwendung in der optischen Winkelmessung

  • Diese Bachelorthesis beschreibt die Charakterisierung integrierter Dioden mit linearen Polarisationsfiltern und eines Tranzimpedanzverstärkers in einer 65nm CMOS Technologie zur Verwendung in der optischen Winkelmessung. Dazu wurde zunächst für den Testchip, auf dem sich die verschiedenen Dioden mit unterschiedlichen Polarisationsfiltern und der Transimpedanzverstärker befinden, eine passende Leiterplatte mittels Altium Designer entworfen. Mithilfe dieser Leiterplatte konnten Messungen durchgeführt werden, um festzustellen, ob diese Technologie für die Verwendung als optischer Winkelsensor geeignet ist.
  • This bachelor thesis describes the characterization of integrated diodes with linear polarization filters and a transimpedance amplifier in a 65nm CMOS technology for use in optical angle measurement. A suitable PCB was first designed using Altium Designer for the test chip containing the various diodes with different polarization filters and the transimpedance amplifier. Using this PCB, measurements could be made to determine whether this technology is suitable for use as an optical angle sensor.

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Metadaten
Dokumentart:Bachelorarbeit
Verfasserangaben:Ferhan Kobyaoglu
Betreuer:Michael Karagounis, Rolf Paulus
Sprache:Deutsch
URN:urn:nbn:de:hbz:dm13-33545
DOI:https://doi.org/10.26205/opus-3354
Jahr der Fertigstellung:2023
Veröffentlichende Institution:Fachhochschule Dortmund
Verleihende Institution:Fachhochschule Dortmund
Datum der Freischaltung:27.02.2023
Seitenzahl:133
Fachbereiche und Institute:Elektrotechnik (ab März 2017)
DDC-Sachgruppen:600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau / 621.3 Elektrotechnik, Elektronik
Abschlussarbeiten:Bachelorarbeiten
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International