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Entwurf eines Testsystems zur Charakterisierung der Komponenten des Monitoring of Pixel System Chips im ATLAS Pixeldetektor am LHC

  • Diese Bachelorarbeit beschreibt den Entwurf eines Testsystems zur Charakterisierung der Komponenten des MOPS-Chips, der im ATLAS Pixeldetektor am LHC eingesetzt werden soll. Der erste Schritt dazu war der Entwurf einer Leiterplatte mit Hilfe von Altium Designer. Mit Hilfe dieser Leiterplatte konnten dann die Komponenten des MOPS-Chips durch Messreihen auf ihre Funktionalität getestet und charakterisiert werden.
  • This bachelor thesis describes the design of a test system to characterise the components of the MOPS chip to be used in the ATLAS pixel detector at the LHC. The first step was to design a PCB using Altium Designer. With the help of this circuit board, the components of the MOPS chip could then be tested and characterised for their functionality through series of measurements.

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Metadaten
Dokumentart:Bachelorarbeit
Verfasserangaben:Nurullah Yaman
Betreuer:Michael Karagounis
Sprache:Deutsch
URN:urn:nbn:de:hbz:dm13-33700
DOI:https://doi.org/10.26205/opus-3370
Jahr der Fertigstellung:2023
Veröffentlichende Institution:Fachhochschule Dortmund
Verleihende Institution:Fachhochschule Dortmund
Datum der Freischaltung:08.05.2023
Seitenzahl:89
Fachbereiche und Institute:Elektrotechnik (ab März 2017)
DDC-Sachgruppen:600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau / 621.3 Elektrotechnik, Elektronik
Abschlussarbeiten:Bachelorarbeiten
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC BY-ND - Namensnennung - Keine Bearbeitungen 4.0 International